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... sous la direction de Yves Ousten et de Laurent Bechou / , · Evaluation de la fiabilité de composants optoélectroniques pour des applications spatiales ...
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InGaN/GaN Light-Emitting Diodes. Yannick Deshayes, Laurent Béchou, and Yves Ousten. ABSTRACT —This paper demonstrates the feasibility of creating.
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Warda Benhadjala, Isabelle Bord, Laurent Bechou, Ephraim Suhir, Matthieu Buet, Fabien Rouge and Yves Ousten. Conference: IEEE 62nd Electronic ...
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DOI: ; Damien Calvez, Fabrice Roqueta, Sébastien Jacques, Laurent Béchou, Yves Ousten, Samuel Ducret.
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Laboratoire de l'intégration, du matériau au système TOUS LABOS -...
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Dominique Dallet, Laurent Bechou, Yves Danto, Pasquale Daponte, Yves Ousten et al. An improved method for automatic detection and location of defects in ...
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Laurent Bechou, Dominique Dallet, Yves Danto, Pasquale Daponte, Yves Ousten, et al.. An improved method for automatic detection and location of defects in electronics ...
Fiabilité de diodes laser de forte puissance 808 nm Sudoc.frwww.sudoc.fr › ...
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... spatiales : approche expérimentale et modélisations par éléments finis / Othman Elmehdi Rehioui ; sous la direction de Yves Ousten et de Laurent Bechou.
Improving Reliability Evaluation of Electronic Assemblies ...hal.archives-ouvertes.fr › hal
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Yves Ousten, S. Ponomarenko, Laurent Bechou, Yves Danto, Said Mejdi, et al.. Improving Reliability Evaluation of Electronic Assemblies Using ...
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